the surface measurements are critical to the successful manufacturing of tight toleranced precision parts for instance in the automotive and many other industries scanning white light interferometry is vastly superior to traditional contact measurement methods and has become the preferred tool for industrial quality control of precision part geometry and surface finish polytex top map systems measure vertical height with sub nanometer resolution and very low measurement uncertainty they allow large surface area measurements up to several centimeters across quickly and with high reproducibility the telecentric optical design enables highly repeatable measurements even inside drill holes up to seventy millimeters, deep structures and surfaces can be examined quickly and checked for defects textures and form parameters as well as standardized parameters like flatness according to iso eleven o one to make a measurement the sample is placed under the instrument hood as soon as the measurement is started the acquired sample points are drawn onto the video image in the measurement window, the time for routine measurements can be optimized down to a few seconds for a semi automated operation positioning devices for palette feeding are available that allow a standardized measurement and evaluation procedure polytech also offers measurement systems and work stations that can be easily integrated for inline or atline inspection the topography software provides outstanding two d and three d data representation of structure heights and shape on both rough and specular surfaces with sun nanometer resolution, the data evaluation can be enhanced with various settings filter, algorithms and profile cuts the topography measurement is based on a technique called white light interferometery polytex scanning white light interferometer is a special type of michaelson interferometer that scans the surface height of the test object to achieve this a beam splitter divides the beam coming from a white light source into two parts the reference beam is reflected from a reference plane, while the measurement beam is incident on the test object when changing the distance between the sample and the interferometer optical interference occurs at every point of the surface where the optical path length is exactly the same for the reference and the measurement beam during the vertical scan the interference patterns are captured by the video camera, while the software computes the topography from this data。
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今天小明收到两张很特别的纸张,客户说需要检测他的厚度,精度要求非常高。在微密集,我们来找技术测一下。这两张纸是非常柔软脆弱的,我们需要采用非接触式检测。 我们可以利用白光公交传感器来检测物料的厚度,精度可以达到零点零零一毫米。这个控制器是一拖二的,利用上下镜头的对焦来进行物料厚度的检测。 我们先用这个卡片来测试一下,可以看到 c h 一表示上面镜头到无聊的距离, c h 二表示下面镜头到无聊的距离。 第三个值就是物料厚度的计算值是零点七一三三毫米。 接下来我们检测一下这个纸张,可以看到检测结果是零点二二六毫米左右。 因为纸张没有固定,所以这个竖直我们看到会产生非常微小的波动。下面我们来进行重复精度的检测,检测这个点让滑轨运动起来,每次到达这个目标点,可以看到读数是 零点二四零零零点二四零幺。重复进度也是非常高的。在 在工业生产中,光伏公交常被用于精度要求非常高的精密检测,尤其是对于透明体,如光线镜头、透明玻璃、手机屏幕厚度测量等有非常大的优势。

嗨,大家好啊,在现代精密测量中,为了实现更高精度的良策需求,白光测量作为一种成熟的良策解决方案,越来越广泛的被各大厂商所青睐。那么在 microview 高精密测量系统中,白光测量是如何应用的呢? 白光测量是利用光谱共聚焦传感器实现高精度无接触距离和厚度测量, 它采用白光作为戒指。白光在特殊后镜组中会形成色散效应,通过光学色散原理建立距离与波长之间的对应关系。 也就是说,被侧物体的不同深度会反射不同颜色的光,从而测量共聚焦探头到被侧物体表面的距离和位移。 光谱共聚焦传感器的激光点在狭小的空间具有很大的灵活性,所以白光系统非常适合用于测量光滑透明或者半透明材料的平面度、轮廓度以及厚度。 此处我们利用演示样品,根据图纸在 microvu 精密测量设备的白光测量系统上编成测量该样品台阶面的复合轮廓度。 根据图纸我们可以看到样品的 abc 基准分别是三个相互垂直的平面, 背侧尺寸是台阶面的复合轮廓度。第一层控制台阶面的位置,即台阶面的轮廓度,参考基准 a。 而第二层则是控制台阶面的方向,即台阶面的平行度,参考基准 a。 第三层控制 台阶面形状及台阶面的平面度。白光测量程序分为两个部分,第一部分为建立基准系, 我们首先在名为 matt 的文字说明中加入对产品材质的描述,该描述对应的侧头参数需要预先写入配置,文件中会包含侧头光谱、平均频率、折射率、裁样时间等参数信息, 简单初步定位后,按照图纸要求提取各个基准元素,建立精确的基准系 part, 并将其永久储存以作为程序。第二部分,白光或其他影像尺寸测量的参考坐标系。 白光测量程序的第二部分与第一部分必须以名称为 sep 的文字提示相区格。 第二部分开始,首先需要呼出储存的元素中基准系 part, 为了方便程序管理,也可将其重命名为任意名称。 然后根据图纸的测量要求,采用手动点工具构造所有需要使用白光去采集测量的点位。 获得基准平面 a 之后,可再建立一次基准系,为后续的几何尺寸攻差提供位置参考。 最后给所有尺寸设定相关的公差与输出。 此处根据图纸被测尺寸是台阶面的复合轮廓度。第一层控制台阶面的位置,即台阶面的轮廓度参考基准 a。 而第二层则是控制台阶面的方向 及台阶面的平行度参考基准 a。 第三层控制台阶面形状及台阶面的平面度。 所以我们只需要分别设置台阶面的平面度、平行度和轮廓度相关公差参数即可。注意,在 inspect 软件中,关于轮廓度,我们需要用组合元素的方式去构建,这样既可以测量待基准的轮廓度,也可以测量 不带基准的轮廓度。 完成编程后,让我们运行一次,查看下测量效果。 储存编辑完成的白光测量程序, 开启新档, 点击白光测量图标,选择对应的白光测量程序, 点击运行。 最后我们可以生成 inspect 测量报告,方便查看其测量结果。 白光测量系统,即光谱共聚焦传感器,具有非常好的适应性,由于它的发射光和返回光在同一轴线上,有效地避免了在激光测量中因为反射角度和光线遮挡等不力因素造成的干扰。 ok, 这就是白光测量应用的简单分享,欢迎大家在视频下方留言讨论, 让我们一起学习更多有关精密测量的知识,更多精彩内容,我们下期再见,拜拜!

这次咱们整点那么一级的技术,对晶原上厚度五到十五微米的碳化硅材料进行厚度测量,客户期望重复精度小于一纳米。采用我们的白光干舍测后传感器进行多点扫描,获得数据的跳动量小于一纳米, 保证那米奇稳定测量实力啊!有需要的老铁联系我们啊,记得点赞关注哦!