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XRD图谱分析中心,合金材料XRD图谱分析 #XRD图谱分析 #第三方检测机构 #CMA #CNAS #检测收费标准 XRD 图谱分析是指利用 X 射线衍射原理,通过检测物质对 X 射线的衍射信号并生成衍射图谱,进而分析物质晶体结构、物相组成及相关特性的检测技术,具有分辨率高、准确性强、非破坏性等特点,广泛应用于材料科学、地质矿产、冶金工业、生物医药、环境监测、电子半导体等领域的物质结构研究与质量管控。 XRD 图谱分析检测范围 金属及合金材料(钢铁、铝合金、铜合金、钛合金等的物相分析)、无机非金属材料(陶瓷、玻璃、水泥、耐火材料等的晶体结构检测)、矿物岩石(矿石、土壤、沉积物等的物相鉴定)、高分子材料(结晶性塑料、纤维、橡胶等的结晶度分析)、纳米材料(纳米颗粒、纳米薄膜等的物相及晶粒尺寸检测)、生物医药材料(药用辅料、生物陶瓷植入体等的晶体结构分析)等。 XRD 图谱分析检测项目 物相定性分析(确定样品中含有的物相种类及对应标准卡片匹配)、物相定量分析(测定样品中各物相的相对含量)、结晶度计算(分析材料中结晶部分占比)、晶粒尺寸测定(通过谢乐公式计算晶体颗粒平均尺寸)、晶格常数测定(精确计算晶体单位晶胞的边长及夹角)、应力分析(检测材料内部的残余应力状态)、取向度分析(判断晶体在材料中的排列方向与择优取向程度)等。 XRD 图谱分析检测标准 GB/T 19501-2013《X 射线衍射定量分析方法》 GB/T 20724-2006《薄钢板表面微观形貌 冷轧薄钢板表面粗糙度和峰值数的测定 触针式轮廓仪法》(关联材料表面结构辅助分析) GB/T 30703-2014《金属和合金的 X 射线衍射相分析方法》 JY/T 009-1996《X 射线衍射分析方法通则》 ASTM E975-2021《X 射线衍射法测定金属和合金中残余奥氏体的标准试验方法》 ISO 15306-2017《钢铁 X 射线衍射法测定残余奥氏体含量》
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