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中国芯片研制获得重大突破 玉衡芯片突破光谱成像领域百年瓶颈 清华团队研制全球首款“玉衡”芯片 突破光谱成像领域百年瓶颈 10月15日,清华大学电子工程系方璐教授团队正式宣布,成功研制出全球首款亚埃米级快照光谱成像芯片“玉衡”。该成果一举突破光谱分辨率与成像通量无法兼得的长期瓶颈,相关研究已在线发表于国际顶级学术期刊《自然》,标志着我国智能光子技术跻身世界前沿。 光谱成像被称为解析物质特性的“光学密钥”,但传统技术受限于物理分光结构,始终面临“高分辨率则慢成像,快成像则低分辨率”的矛盾。“玉衡”芯片的革命性突破源于架构创新:团队提出可重构计算光学成像方案,将传统物理分光限制转化为光子调制与计算重建过程,通过挖掘随机干涉掩膜与铌酸锂材料的电光特性,实现了高维光谱调制与高通量解调的协同运作 。 这款仅2厘米×2厘米×0.5厘米的微型芯片,展现出惊人性能:在400-1000纳米宽光谱范围内,同时实现亚埃米级光谱分辨率与千万像素级空间分辨率,单次快照即可同步获取全光谱与全空间信息,分辨能力较传统技术提升两个数量级。 “玉衡”的应用前景覆盖多领域关键需求。在天文观测领域,其每秒可获取近万颗恒星的完整光谱,有望将银河系千亿颗恒星的光谱巡天周期从数千年缩短至十年以内;在机载遥感、机器智能等领域,其微型化与高效能优势可破解现有设备体积庞大、成像滞后的难题。 方璐教授表示,“玉衡”攻克了光谱成像系统在分辨率、效率与集成度上的三重难题,为基础物理研究、资源勘探等提供了全新工具。业内专家评价,该成果不仅改写了光谱成像技术的发展路径,更彰显了我国在芯片领域的原始创新能力。#中国芯片崛起 #芯片研制 #清华 #玉衡芯片 #上林三里红
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