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大家好,我们今天来继续来看这个统计质量控制啊,道格拉斯蒙格玛丽写的这本书啊, 然后呢,今天我们来看到缺线数控制图,缺线数,缺线数控制图,简称 c chart。 前面呢,我们有讲到 p 图跟 m p 图,哎, p 图跟 m p 图呢,针对的是计件,这回呢来到计点,就是说我,你看这个题目啊,就是说我抽了一百件样品,抽了一百件样品,然后呢, 据说第一个样本呢,是一百件样品,然后呢一百件样品里面发现了二十一个缺陷数, 就是说,嗯,就是说你一件不合格品上可能有几个缺陷点,这个是一种情况,对吧?然后呢,这个,这个是 chat 呢,是针对缺陷点来做控制图,我们来看,我们来看这道题目啊,这题目,这,这个是一个立体啊,就是说, 就是说二十六个连续样本,然后呢每个一百个印刷电路板,这里有,注意,注意啊,这里有二十六个数据,然后,对吧?然后每每个样本有一定的缺陷数, 然后呢,他说为了,为了,为了简单,为了为了检查单元,定义简单啊,定义,为什么 你每个样本一百个版,就是说我第一个样本有一百个,一百个那个电路版,然后发现了二十一个缺陷点,然后呢教你建立一个 c chart, 对,这些数据,我们知道 c chart 的来源是什么啊? c chart 的来源是不双分 分部,松分部里面的这个 c, 对吧?所以说简称 c chart。 然后控制线的上下线的计算, 上线、中线、下线,就是说 c 的均值加上 c 开根号三倍的标准偏差,我们知道博双分布的均值跟标准差是相等的,是吧?都是等于 c 啊,这个是故事背景啊,我们来看具体来怎么建这个 say charge。 然后呢?我们知道样本书的缺陷数在这里的,比如说我一天收集一百个版,打个比方,一天一百个版,第二天又是一百个版,然后每个版上发现了这么多缺陷数,然后我们总计, 总计有多少个?总计二十六个样本,总计 总计有多少个缺陷?那个缺陷点 把它加起来五百一十六个。然后呢?平均呢?平均一下不就得到 c 了吗? 比二十六,那就是说我平均平均每天一百个一百个板,平均每天一百个板,会得到十九点八十九点八个缺陷, 十九点八个区限数,然后我们来建立控制图,我们来看,我们来看。呃,我再把它复制一列啊,等会万一要删减,万一又要有超出控制线的情况啊,来复制一列,然后这里又上线, 中线,下下控制线,中线等于什么?中线等于等于 c 而固定住。然后呢?上线呢?上线就是等于 中线,加上三倍的标准偏差, 这是上线,上线出来了,对吧?上线,然后我们把上线复制过来,减掉三倍的标准偏差,就是下线, 然后再把它复制下来,那我们的上下控制线得到了,对吧?上 下控制线得到了,然后上下控制线得到了,曲线数得到了,那我们就可以直接输出控制图了,对吧?插入 还有折线图,我们得到了 c chart。 我们来看,我们来看这个控制图啊,这个数据做出的控制图啊,你看 控制线在这里,对吧?上控制线,下控制线,中线,然后这个运行点在这里发现这两点超过了控制线 啊,超过控制线,我们在第一阶段,假设我们在这个第一阶段啊,在做这个实验控制线的时候啊,假设你,假设你发现 你收集了二十六个数据,有超出控制线,那你肯定要去调查,调查什么原因? 假如啊,我们我们这里,假如啊,假如说你这里,呃,第六个控制点 出现了什么?呃,温度不对啊,或者你生产过程当中检查的不对啊,打个比方啊,你去具体,你要看具体,你要看怎么怎么去调查原因,如果我们找到了这个原因,是你这个温度不对,打个比方啊,你你那个测量的时候温度不对,那我们删掉这个点, 那这个呢?还有一个点呢?还有一个是二十一号点, 二十号点打底盘或是什么原因啊?你调查下来或者是什么原? 嗯,具体原因不明啊。然后呢?我们再把它删掉,打个比方可以删掉啊, 后来我发现这里控制线要重新计算了,对吧?这里累加的缺陷数 c 呢? c 变掉了,我们只有二十四个数据了, 让我们看到控制线也是跟着变的啊,因为你的中线变掉了,中线变掉了,控制线变掉了,然后检查一下我们的控制线,但是我们这个超线的点是要保留的,但是你这个 点要注明,你注明你是调查下来是什么原因,但是呢控制线的范围呢?已经是改掉了啊,假装, 呃,假如这二十四个点受控,然后我们得到一个实验控制线,实验控制线得到了,那你就可以进入下一阶段的,下一阶段的就继续收集数据, 那么这个控制图就可以投入使用。

今天我们再讲一下 spc 啊, spc 最近也很火,淘宝呢,为了 spc 也专门 重新开了个内幕,因为 spc 体验正在上升啊。那还有人在问我 spc 能不能用在家用里面,那今天我给大家讲一个很明确的答案啊,你信 不信你自己看着办啊。 spc 他不适合用在家里面 spc 他不适合用在家里面啊。我再强调一次, spc 他不适合家装, spc 他可以用在幼儿园,可以用在 啊,公众场,公众场所。为什么? spc 它防火,它防水,它耐磨,对,这是它的优点, 它薄,特别的薄,所以它可以用在公共的场合,没有问题。它的环保甲醛 包括防火等级,因为公共场所对防火等级有要求的, spc 他不需要造假,他的防火等级就是达标的啊,达到 b 一等级的,这是他的优点,但是为什么他不适合用在家里呢? 听清楚,第一个 spc, 他的锁扣,他太薄,他锁扣扣不紧,如果说我们家用的话,我们很有可能会 spc 会脱缝,很有很大的概率会脱缝,因为他太薄了。 第一点,第二点, spc 的收缩膨胀比比较高,如果说我们的家里面积比较大的话,我们很可能会起拱。第三点, spc 它的表面的处理 啊,因为他是膜,他是一层膜,所以他是用滚的,用那个滚滚膜,所以他的钢板做的不是特别细腻,所以我们去看 spc 的时候,我们可以看到他这这个纹路啊,好像十几年前的那个,强化的感觉 不是特别漂亮,不管他花色纸用成什么样子,你看着他的纹路就感觉怪怪的,因为他没有办法做出那种非常细腻的反实木的木刺纹的纹路,所以他不是特别的美观。第三个,第二应该是第四个了吧? spc 他抗 耐磨,但是他不抗刮啊,这是一个非常致命的一点,就是他可以磨磨,怎么去磨他?他很很耐磨,但是呢,他不抗刮是什么意思呢?他刮的时候他会 那条划痕是非常明显的,而且是无法修复的,特别明显,因为他是软性的,碰到尖锐的就会被刮掉。我们家里面经常会挪挪动座椅啊,很容易会刮掉的,所以 sbc 他不适合用在家装里面 能取代 sbc 的。如果说你要用 sbc, 你为什么不用瓷砖呢?你说我的唇膏太矮了,唇膏太矮了,那你用多层个三层就够了。 sbc 不适合加装, ok?


嗨,大家好,今天讲控制图的最后一个章节就是技术型控制图,他针对两种技术类型,一种是缺陷品,另外一种是缺陷。 缺陷品的控制图包括 p 图和 np 图。缺陷呢,包括 c 图和 u 图。 先来了解缺陷品的控制图,技术嘛,就是统计多少个好的,多少个坏的,或者是类似的二元数据, 毕竟有些特性无法用连续变量来表示。二元数据的概率基础自然是基于我们的老朋友二项是分布。 来回顾一下二项式分布,他是对不努力实验进行描述。这些实验呢,可重复,相互之间独立 二元有事件发生的长数概率。 比如说手机,我们定义不 合格为事件,那么事件的概率就是 p。 事件不成功的概率是一减 p。 取样 n 个手机 s 个不合格的概率就是 px 等于 n。 选 x 值乘以 p 的 x 方,再乘以一减 p 的 n 减 x 方。 另外,随机变量 x 的标准偏差西格玛 x 等 等于 n 乘以 p, 再乘以一减 p 的开平方值,于是不合格概率的标准偏差就等于 xigmax 除以 n。 简化下来,这个值呢,就等于 p 乘以一减 p, 再除以 n 的开平方值。 如果不合格,这个事件的总体概率 p 已知, 并且每次取样的样本数 n 不变。根据修哈特的理论和前面的结论,我们就能够建立起充养 n 的不合格率的控制线及 p 加减三倍的 p 乘以一减 p 除以 n 的开平方值。 又由于二项式分布的均值期望值等于 np, 所以这个控制线就同时监控了均值和散布。这个图我们称之为 p 图。 如果不合格的总体概率 p 未知, 我们可以用大树定律来解决问题,就是 p 的样本均值替代 p, 他等于每次取样的不合格数量之和除以取样次 数 m 和取样样本量 n 的成绩带入到公式,得到最后的控制线。式子注意,这里控制线是不变化的, 现在总体的 p 未知, n 也变化, p 的样本均值则等于不合格数量之和除以样本总数之和, 然后再带入到公式里。由于 n 是变化的,所以这时候控制线也是变化的。 举一个名吉太伯的例子来说明,数据被砍掉了一半,总共十次抽样, 有十个不合格数。数据简单计算,总样本数是九百六十四,总不合格数是一百九十一,总不合格率就是零点一九八一。 按照公式计算出标准偏差。 在计算第一次抽样的控制线, 计算出全部十次的控制线, 画出 p 控制图。我们看到有两个点,超线 属性数据的控制图构建也遵循,发现消除异常, 计算剩余点,再反复几次,看有没有稳定,最后受控。当然,如果能力不够,还需要继续改善。 p 控制图是针对不合格率, np 呢,则是针对不合格数。所以 np 就 是讲 p 的控制图乘以 n, 得到这样的式子,他要求每次的样本数相同。 同样举一个例子,十次样本数相同的取样有十次的不合格数。计算出总不合格数和平均不合格数, 以及总样本数和总不合格率之后是 np 的标准偏差, 于是就得到 np 控制图的控制线, 画出 np 控制图。 现在我们来看看针对缺陷的控制图, c 图和 u 图,它的概率基础是薄松分布。 缺陷是什么?比如说,一个缺陷品可能包括多个缺陷 黑点呢?是缺陷一, 划痕是缺陷二, 漏光是缺陷三, 有可能一个产品包含有很多缺陷。 现在简单回顾一下脖松分布,它来自于二项式分布, 如果 n 曲进油穷,并且 p 足够小,就得到薄松分布的公式。这里面栏目的等于 n, p 代表着稀有事件发生的长寿次数, 我们通常用 c 来代替。栏目的这里呢,随机变量 x 的泊松分布的均值和 方差都等于 c。 有了这些,就可以得到针对缺陷的 c 控制图的控制线了。 c 有总体的缺陷发生,长数已知,那么控制线很显然就是 c 加减三倍的根号 c。 如果总体 c 未知,根据大数定律,用样本均值 c 八来替代即可。 举一个划痕的例子,假设恩不变,每日取 一样两百,得到十的缺陷数如下, c 八等于二点六,上下控制线就等于二点六,加减三乘以根号二点六。 由于下控制线不能小于零,所以我们将它改为零, 这样就得到划痕的 c 图控制图。 c 控制图的 n 如果是变化的,那么每一次 c 的期望值也是变化的,就不能再用 c 图了。 每次抽 n 个有 x 缺陷,我们就设 u 等于 x, 除以 n, u 就是单位平均缺陷数。 将对 c 的监控转化为对优控制线就等于优霸,加减三倍的优霸乘以 n 的开平方值,再除以 n, 这里呢,优的样本均值乘以 n 就是缺陷数 x 的标准偏差。 最后我们得到控制线等于优霸加减三倍的优霸处以 n 的开平方值, 这就是优控制图。 举一个简单的例子, 样本数量十次不尽相同,十次的缺陷数,总样本是三百三,总缺陷是三十三。 优的均值等于零点一再分别计算出十次取样不同的标准偏差, 这样就可以画出优控制图了。 特殊控制图还有很多很多,这里呢,只简单举了四个例子,其余呢,如感兴趣,大家可以自行了解, 这次的视频就到这里,感谢观看,下次再见!