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MPI探针台-多温度自动测试功能演示 MPI高低温探针台功能演示介绍,深圳市易捷测试技术有限公司是MPI中国区代理,提供自动研发GBITEST测试系统搭载MPI探针台,为多温度射频微波测试等提供多种系统解决方案。 MPI的多款探针台都针对温度控制和自动化测试做了专门优化,能满足不同场景下的测试需求。搭载深圳市易捷测试技术的GBITESTS测试软件可快速兼容探针台与仪器仪表协同测试效率,操作更便捷,节省测试时间和成本#探针台#MPI探针台 #高低温探针台 。温度控制范围与技术 宽温覆盖:支持 -60°C 至 300°C 的温度区间(如TS3000、TS3500-SE型号),满足高低温环境下的器件表征需求。 精准温控:采用 IceFreeEnvironment™无冰环境技术 和主动冷却探头压板设计,避免低温结霜和高温热漂移,温度稳定性达±0.1°C。 快速响应:部分型号配备 AirCool® PRIME热卡盘系统,结合专利AC3冷却技术,减少30%-50%空气消耗,提升温度切换效率。 2. 自动化测试能力-晶圆批量处理: WaferWallet™操作平台(如TS3500-SE)支持5个晶圆托盘,可在多温度条件下全自动测试150/200/300mm晶圆,减少人工干预。自动化流程:集成显微镜滑台编程、探针悬停控制(PHC)和安全测试管理系统(STM™),实现探针定位、温度循环、数据采集全流程自动化。多任务兼容性:支持DC-IV/CV、射频(26GHz-110GHz)、毫米波(mmW)及晶圆级可靠性(WLR)测试,适配5G/6G器件研发需求。
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